锂电池隔膜厚度测量仪\功能
济南三泉中石实验仪器生产的CHY-U测厚仪用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产量和生产安全。
测厚是一项重要的检验项目。测厚的方法除了常规的卡尺、千分尺等机械方法外，还有超声波测厚、射线测厚、磁性测厚、电流法测厚等等。在厚度检验过程中，影响测量结果准确性的因素较多，在测厚操作中需要特别注意的几个问题。
影响测厚准确性的因素
测厚仪本身的精度和声速的校对。每台测厚仪都有相应的精度，如常用的测厚仪精度为士0.1+1%丁，其中下为待测工件的厚度。测厚仪本身精度的影响会使实测厚度和真实厚度值之间产生偏差，在具体测量时应根据实际要求选择相应精度的测厚仪。由超声波测厚仪的工作原理可知声速是测量厚度值的决定因素，所以测厚前应按说明书对测厚仪进行测试、校准，并根据不同工况条件、设备情况调整声速。
探头和辊合剂的选择。使用超声波测厚仪时正确选择探头和祸合剂也是保证测量结果准确性的重要因素。如测量高温工件时仍选用普通探头，极易造成示值偏高、示值跳动，有时还会损坏探头;待测设备表面不平整或测量小管径管道时，测厚仪应选用小直径探头，如果探头选用过大会造成探头和被测物表面接触不好，导致探头接收的脉冲波信号强度不够，测厚仪示值偏低。
应用领域
对有些材料而言，厚度测量是衡量材料质量的基础手段。测量的对象往往是对厚度有较高要求的材料，例如薄膜、塑料、橡胶、纸张、纺织品、金属箔片（铝箔、铜箔、锡箔等）、板材等等。测量厚度的目的也逐渐由控制外观质量发展成为保证材料进一步完善加工的主要方法。因此，以节约成本、提高工业化生产效率为目的，材料厚度的测量受到了各行各业的广泛关注。
薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。厚度测量仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度测量。
技术特征
·配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果
·打印大，小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据
·仪器自动保存至多100组测试结果，随时查看并打印
·标准量块标定,方便用户快速标定设备
·配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小
·软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户
·配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输
技术参数
测量范围 0-2mm （其他量程可定制
分辨率 0.1um
测量速度 10次/min（可调）
测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）
接触面积 50mm²（薄膜），200mm²（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种
进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调)
进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调)
机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高)
重 量 23Kg
工作温度 15℃-50℃
相对湿度 高80%,无凝露
试验环境 无震动，无电磁干扰
工作电源 220V 50Hz
参照标准
GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、
ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、
JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》
产品配置
标准配置：主机、标准量块、微型打印机
选用配置：软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器
锂电池隔膜厚度测量仪\功能
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