四探针导电方阻测试仪-一步电子网

标题：供应四探针导电方阻测试仪

四探针导电方阻测试仪

GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定扩展电阻探针法

GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法

GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法

GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定扩展电阻探针法

GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法

四探针导电方阻测试仪

本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。

误差：±0.2%读数±2字电阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV

电流输出：直流电流?0～1000mA?连续可调，由交流电源供电。

CB/T1550 非本征率导体材料导电类型测试方法 GB/T 1552 硅、储单晶电阻率测定直排四探针法

测量精度±（0.1%读数）电阻：1×10-5～2×105Ω

本标准适用于侧量晶体晶向与导电类型已知的硅片的电阻率和测量材底同型或反型的硅片外延层的电阻率，测量范围，10-* n·cm～10' Ω·cm。

标配：测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

电源：220±10% 50HZ/60HZ

测量电压量程：?2mV? 20mV? 200mV?2V?

在中国标准分类中，四探针法涉及到半金属与半导体材料综合、金属物理性能试验方法、、、电工合金零件、特种陶瓷、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电阻器、半导体集成电路、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、水环境有毒害物质分析方法、电工材料和通用零件综合、半金属、元素半导体材料、金属无损检验方法。

标准分类中，四探针法涉及到半导体材料、金属材料试验、绝缘流体、兽医学、复合增强材料、电工器件、无损检测、集成电路、微电子学、土质、土壤学、水质、电子显示器件、有色金属。

规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，敷励根据本标准达成协议的各方研究是香可使用这些文件的新服本。凡是不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。

电阻测量范围：

电导率：5×10-6～1×108ms/cm

四端测试法是目前较之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

GB/T 14847 重掺杂衬底上轻掺杂建外延层厚度的红外反射测显方法

提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求

范围本标准规定了硅片电阻率的扩展电阻探针测量方法。

主机外形尺寸：330mm*340mm*120mm

分辨率：醉小1μΩ

测量误差±5%

显示方式：液晶显示

量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA,?

GB/T 1555 半导体单晶晶向测定方法

材料：无水乙醇，化学纯。耐高温PET膜，厚度100µm，宽100mm，耐温度为200℃。聚偏氟乙烯（PVDF），型号为HSV900，纯度≥99.5%。N-甲基吡咯烷酮（NMP），电子级。正极材料，磨口具塞锥形瓶，250mL.磁子,4cm~5cm。

仪器：分析天平，感量0.0001g。四探针电阻率测试仪由主机、四探针头等组成，整个仪器系统满足JJG 508 I级要求。搅拌机，湿膜制备器，电热鼓风干燥箱，温度可控制在150℃±2℃。真空干燥箱，温度可控制在120℃±2℃。螺旋千分尺，磁力搅拌器。干燥器，装有适宜的干燥剂，例如变色硅胶。

原理：导电浆料电极极片中，影响电阻率的主要因素包括基材与涂层的结合界面情况，导电剂分布状态，颗粒之间的接触状态等。通过测定极片电阻率能够判断极片中石墨烯在正极主材微观结构的均匀性和导电浆料的电性能。

DB13/T 5026.1-2019中界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

试验步骤胶水制备固含量8%胶水配制取适量PVDF粉于洁净干燥的烧杯中，置于真空干燥箱内，70℃真空干燥12h，放入干燥器冷却至室温备用。锥形瓶中先放入磁子，再称量PVDF粉末16.0g，称取NMP184g至锥形瓶中，盖上瓶塞并密封。置于磁力搅拌器上搅拌48h，使PVDF充分溶解。

极片电阻率 electrode resistivity 导电浆料与其他材料按配比、规定步骤制得的膜的单位体积上的电阻大小。

注1：使用的材料和器皿要求干燥。注2：称量过程中尽量避免将PVDF粉末沾到瓶壁和瓶口上。

胶水固含量的测定称取2g（到0.0001g）胶水于洁净干燥的铝箔上，放入120℃电热鼓风干燥箱中干燥2h，置于干燥器冷却至室温后称取质量，得到干燥后胶水和铝箔的总质量m2（n+1）（n≥1），直至后两次称重之差不大于0.0003g为止。计算时取后两次称量小数值为干燥后胶水和铝箔的总质量m2。